CCIT密封性測(cè)試儀

CCIT密封性測(cè)試儀Leak-M是一個(gè)確定性的微漏測(cè)試系統(tǒng),用于注射劑產(chǎn)品和硬質(zhì)容器的容器密封完整性測(cè)試,此類產(chǎn)品通常需要精準(zhǔn)測(cè)試和檢測(cè)微小的泄漏。由于該方法為非破壞性檢測(cè)方式，可以廣泛使用在藥品整個(gè)生命周期的包裝密封完整性檢測(cè)和驗(yàn)證，節(jié)省了因傳統(tǒng)方法破壞樣品導(dǎo)致的大量樣品損耗，提高了檢測(cè)結(jié)果的可靠性和可重復(fù)性。

• 產(chǎn)品型號(hào)：Leak-M
• 更新時(shí)間：2022-11-10

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     CCIT密封性測(cè)試儀Leak-M是一個(gè)確定性的微漏測(cè)試系統(tǒng),用于注射劑產(chǎn)品和硬質(zhì)容器的容器密封完整性測(cè)試,此類產(chǎn)品通常需要精準(zhǔn)測(cè)試和檢測(cè)微小的泄漏。由于該方法為非破壞性檢測(cè)方式，可以廣泛使用在藥品整個(gè)生命周期的包裝密封完整性檢測(cè)和驗(yàn)證，節(jié)省了因傳統(tǒng)方法破壞樣品導(dǎo)致的大量樣品損耗，提高了檢測(cè)結(jié)果的可靠性和可重復(fù)性。

     CCIT密封性測(cè)試儀Leak-M是根據(jù)真空衰減法的原理設(shè)計(jì)研發(fā)的，滿足ASTM F 2338-09相關(guān)方法，符合中國(guó)CDA《上市化學(xué)仿制藥（注射劑）一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》。精度可到達(dá)檢測(cè)3微米漏孔，是*無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，測(cè)試誤差極小，降低泄漏風(fēng)險(xiǎn)；減少原料耗費(fèi)，降低生產(chǎn)成本，由于是無(wú)損測(cè)試，全部包裝可以返回市場(chǎng)銷售；可以獲得漏孔級(jí)別；無(wú)需樣品制備，無(wú)損、定量、可靠、可重復(fù)、客觀；設(shè)備參與制定ASTM 真空衰減法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，具有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的精密度與偏差研究數(shù)據(jù)支撐，獲得的數(shù)據(jù)更客觀，可重復(fù)，更可信。

     隨著《上市化學(xué)仿制藥（注射劑）一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》征求意見(jiàn)稿的發(fā)布，國(guó)內(nèi)各大藥企對(duì)包裝密封性有了*的重視，也在四處調(diào)研各種確定性方法的密封設(shè)備，濟(jì)南瑞萊鉑智能科技有限公司是一家高科技企業(yè)，致力于真空衰減法無(wú)損密封性檢測(cè)儀器的研發(fā)與生產(chǎn)，公司擁有一批包裝檢測(cè)領(lǐng)域從業(yè)10年之久的專業(yè)人士，具有豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和雄厚的技術(shù)力量，能夠?yàn)槟峁I(yè)的個(gè)性化定制和系統(tǒng)的解決方案。